1. 중성자 산란 및 회절 연구
- 재료과학, 물리학, 결정학 연구에서 1차원 및 2차원 중성자 검출기로 사용
- 원자로 및 중성자 산란시설(가속기)등에서 시료를 통과하거나
산란된 중성자의 각도 분포와 위치를 고분해능으로 측정
2. X-선 및 하전입자 이미징
- 저에너지 X-선, 감마선 또는 하전입자의 공간적 분포를 파악하는 실험에 사용
- 방사광과 분광기의 초점면에서 하전 입자의 각도 분포나 궤적을 측정하여
정밀한 분석을 수행
3. 고정밀 방사선 및 핵물리학 실험
- 다중 양극/음극 구조와 채널별 프리앰프 설계를 통해 높은 계수율과
우수한 각도 분해능을 제공하므로, 정밀성이 요구되는 핵물리학 실험에 사용
